donderdag 22 mei 2014 00:00
Op donderdag 22 mei organiseert de Industriële Focusgroep XUV Optiek, onderdeel van het MESA+-instituut voor Nanotechnologie, een workshop over laagenergetische ionenverstrooiing (Low Energy Ion Scattering, of LEIS). LEIS is een techniek voor elementaire analyse met ultieme oppervlaktegevoeligheid en kan toegepast worden op veel soorten materialen. Zowel LEIS gebruikers als wetenschappers met interesse in de toepassing van LEIS kunnen deelnemen.
Hoofdspreker is Dr. Stanislav Průša van de Brno University of Technology met een voordracht over LEIS-analyse van grafeen.
De workshop vindt plaats in Conferentiehotel Drienerburght, op de campus van de universiteit.
Voor meer informatie en registratie (alleen beschikbaar in Engels):
Meer recent nieuws
wo 11 mrt 2026Nieuwe strategie moet Kennispark Twente laten groeien naar 700 bedrijven en 16.500 banen
di 10 mrt 2026Nominatie DS. Visscherprijs 2026 voor UT'er Simon Langener
ma 9 mrt 2026Belangrijke stap voor project Beethoven
ma 9 mrt 2026UT-onderzoek ontkracht mythe van de filterbubbel
ma 9 mrt 2026UT-onderzoek ‘Hand in hand tegen spanning' is de winnaar van de Klokhuis Wetenschapsprijs