LEIS Workshop 2014

Op donderdag 22 mei organiseert de Industriële Focusgroep XUV Optiek, onderdeel van het MESA+-instituut voor Nanotechnologie, een workshop over laagenergetische ionenverstrooiing (Low Energy Ion Scattering, of LEIS). LEIS is een techniek voor elementaire analyse met ultieme oppervlaktegevoeligheid en kan toegepast worden op veel soorten materialen. Zowel LEIS gebruikers als wetenschappers met interesse in de toepassing van LEIS kunnen deelnemen.

Hoofdspreker is Dr. Stanislav Průša van de Brno University of Technology met een voordracht over LEIS-analyse van grafeen.

De workshop vindt plaats in Conferentiehotel Drienerburght, op de campus van de universiteit.

Voor meer informatie en registratie (alleen beschikbaar in Engels):

www.utwente.nl/LEIS2014