woensdag 16 april 2025 14:00 - 15:30
Speaker : Bart Leenheer
Subject : Improved Low-contrast Spaghetti Defect Detection for FDM Printers
Date : 16 April 2025
Time : 14.00 hr
Location : Ravelijn 2502
Meer colloquia
- ma 19 mei 2025 14:00 - 15:30Master Colloquium - Rens van der Werf (M-ITECH)
- wo 21 mei 2025 11:00 - 12:30Master Colloquium - Franka van Jaarsveld (M-CS)
- wo 28 mei 2025 08:45 - 11:30Master colloquium - Tom Ossendrijver (M-ITECH)
- wo 28 mei 2025 16:00 - 17:30Master Colloquium - Lukas Hageman (M-ITECH)